Menü
1.Giriş
Bu yalıtım malzemelerine yönelik yüksek frekanslı test sistemi, S916 test aparatı, yüksek frekanslı Q ölçer, dahili veri toplama ve otomatik tanδ ölçüm yazılım modülü ile HLK-1 indüktörlerden oluşmaktadır.
GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, ASTM D150 ve IEC 60250 standartlarına uygun olarak tasarlanmış ve üretilmiştir.
Sistem, yalıtım malzemelerinin yüksek frekanslı dielektrik kaybı tangenti (tanδ) ve dielektrik sabitliğinin (ε) otomatik testi için optimal bir çözüm sunar.
Test numunelerini sıkıştırmak için paralel plakalı kapasitör aparatı kullanılır; okuma birimi olarak Q ölçerle eşleştirilir. Dielektrik kaybı tangenti, Q değerindeki farka (numune yüklü / boş) ve numune kalınlığı okumalarına dayalı formülle hesaplanır.
Dijital Q ölçer, dielektrik sabitliğini (ε) ve dielektrik kaybını (tanδ) otomatik olarak hesaplayıp görüntüleyebilir.
2.Sistem Yapısı
2.1 Ana Birim: Yüksek Frekanslı Q Ölçer
| İşlev Öğesi | Özellikler |
| DDS Dijital Sentetik Sinyal Kaynağı Frekans Aralığı | 10 kHz–70 MHz |
| Sinyal Kaynağının Frekans Kapsama Oranı | 7000:1 |
| Sinyal Kaynağı Frekans Doğruluğu (6 önemli basamak) | 3×10⁻⁵ ± 1 basamak |
| Q Faktörü Ölçüm Aralığı | 1~1000, otomatik/manuel aralık değiştirme |
| Q Faktörü Çözünürlüğü | 4 önemli basamak, çözünürlük: 0,1 |
| Q Faktörü Ölçüm Hatası | ＜5% |
| İndüktans Ölçüm Aralığı (4 önemli basamak, çözünürlük: 0,1 nH) | 1 nH ~ 8,4 H, çözünürlük: 0,1 nH |
| Indüktans Ölçüm Hatası | <5% |
| Ayarlanabilir Ana Kapasitans | 30–550 pF |
| Doğrudan Kapasitans Ölçüm Aralığı | 1 pF ~ 2,5 μF |
| Ayarlanabilir Kapasitans Hatası/Çözünürlüğü | ±1 pF veya ＜1% / 0,1 pF |
| Rezonans Noktası Arama Fonksiyonu | Otomatik Tarama |
| Önceden Ayarlanmış Uygun Q Aralığı | 5–1000 aralığında sesli ve görsel alarm uyarısı |
| Q Aralığı Anahtar Modu | Otomatik / Manuel |
| LCD Ekranında Gösterilen Parametreler | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn vb. |
| Ünite ve Test Kablolarının Kalıcı Endüktansı için Otomatik Düşürme (Özel Tasarım) | Mevcut |
| Büyük Kapasitans İçin Doğrudan Okuma (Özel Tasarım) | Maksimum ölçülebilir değer: 2,5 μF |
| Dielektrik Kayıp Faktörünün Ölçüm Hassasiyeti | 0.05% |
| Dielektrik Sabitinin Ölçüm Hassasiyeti | 0.1% |
| Test Edilebilir Numune Kalınlığı | 0,1 mm – 10 mm |
| USB İletişim Arayüzü | Desteklenir |
2.2 Dielektrik Sabiti εr ve Dağılma Faktörü tanδ için S916 Dijital Test Aparatı
2.3 HLK-1 Endüktör Seti
| HAYIR | Endüktans | Endüktans% | Min. Q Faktörü | Dağıtılmış Kapasitans | Rezonans Frekans Aralığı (MHz) | Uygulanabilir Test Frekansı |
| 1 | 0,1 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 20~70 | 50 MHz |
| 2 | 0,5 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 10~37 | 15 MHz |
| 3 | 2,5 μH | ±5% | 200 | 5 pF | 4.6~17.4 | 10 MHz |
| 4 | 10 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 2.3~8.6 | 5 MHz |
| 5 | 50 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1~3.75 | 1,5 MHz |
| 6 | 115 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 0.75~2.64 | 1 MHz |
| 7 | 1 mH | ±5% | 150 | 8 pF | 0.23~0.84 | 0,5 MHz |
| 8 | 5 mH | ±5% | 130 | 8 pF | 0.1~0.33 | 0,25 MHz |
| 9 | 14 mH | ±5% | 90 | 8 pF | 0.072~0.26 | 0,1 MHz |
© Dongguan Zhongli Instrument Technology Co., Ltd.
Sorunuzu bırakın, size kaliteli ürün ve hizmet sunalım!
Lütfen teklif almak veya hakkımızda daha fazla bilgi edinmek için aşağıdaki formu doldurun. Lütfen mesajınızda mümkün olduğunca ayrıntılı olun, en kısa sürede size geri dönüş yapacağız. Yeni projeniz üzerinde çalışmaya başlamaya hazırız, başlamak için hemen bizimle iletişime geçin.