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Este sistema de teste de alta frequência para materiais isolantes é composto por um suporte de teste S916, um medidor Q de alta frequência, um módulo integrado de aquisição de dados e software automático de medição do fator de perda dielétrica (tanδ), além de indutores HLK-1.
1.Introdução
Este sistema de teste de alta frequência para materiais isolantes é composto por um suporte de teste S916, um medidor Q de alta frequência, um módulo integrado de aquisição de dados e software automático de medição do fator de perda dielétrica (tanδ), além de indutores HLK-1.
Foi projetado e fabricado em conformidade com as normas GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, ASTM D150 e IEC 60250.
O sistema oferece uma solução ideal para o teste automático do fator de perda dielétrica (tanδ) e da constante dielétrica (ε) em altas frequências de materiais isolantes.
Um suporte capacitor de placas paralelas é utilizado para fixar as amostras de teste, combinado com o medidor Q como unidade de leitura. O fator de perda dielétrica é calculado por meio de uma fórmula baseada na diferença do valor Q (com a amostra carregada/descarregada) e na leitura da espessura da amostra.
O medidor Q digital pode calcular e exibir automaticamente a constante dielétrica (ε) e a perda dielétrica (tanδ).
2.Composição do Sistema
2.1 Unidade principal: Medidor de Q de Alta Frequência
| Item de Função | Especificações |
| Faixa de Frequência da Fonte de Sinal Sintetizada Digital DDS | 10 kHz–70 MHz |
| Taxa de Cobertura de Frequência da Fonte de Sinal | 7000:1 |
| Precisão de Frequência da Fonte de Sinal (6 dígitos significativos) | 3×10⁻⁵ ± 1 dígito |
| Faixa de Medição do Fator Q | 1~1000, comutação automática/manual de faixa |
| Resolução do Fator Q | 4 dígitos significativos, resolução: 0,1 |
| Erro de Medição do Fator Q | ＜5% |
| Faixa de Medição de Indutância (4 dígitos significativos, resolução: 0,1 nH) | 1 nH ~ 8,4 H, resolução: 0,1 nH |
| Erro de medição da indutância | <5% |
| Capacitância Principal Ajustável | 30–550 pF |
| Faixa de medição direta da capacitância | 1 pF ~ 2,5 μF |
| Erro/Resolução da capacitância ajustável | ±1 pF ou ＜1% / 0,1 pF |
| Função de busca do ponto de ressonância | Varredura Automática |
| Faixa Pré-Definida de Q Qualificado | 5–1000 com alerta sonoro e visual |
| Modo de Comutação da Faixa de Q | Automático / Manual |
| Parâmetros exibidos na tela LCD | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, etc. |
| Dedução automática da indutância residual da unidade e dos cabos de teste (design exclusivo) | Disponível |
| Leitura direta para capacitâncias elevadas (design exclusivo) | Valor máximo mensurável: 2,5 μF |
| Precisão de medição do fator de perda dielétrica | 0.05% |
| Precisão de medição da constante dielétrica | 0.1% |
| Espessura Testável da Amostra | 0,1 mm – 10 mm |
| Interface de comunicação USB | Suportado |
2.2 Fixação de teste digital S916 para constante dielétrica εr e fator de dissipação tanδ
Conjunto de Indutores HLK-1 2.3
| Não | Indutância | Indutância% | Fator Q Mínimo | Capacitância Distribuída | Faixa de frequência de ressonância (MHz) | Frequência de Teste Aplicável |
| 1 | 0,1 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 20~70 | 50 MHz |
| 2 | 0,5 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 10~37 | 15 MHz |
| 3 | 2,5 μH | ±5% | 200 | 5 pF | 4.6~17.4 | 10 MHz |
| 4 | 10 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 2.3~8.6 | 5 MHz |
| 5 | 50 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1~3.75 | 1,5 MHz |
| 6 | 115 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 0.75~2.64 | 1 MHz |
| 7 | 1 mH | ±5% | 150 | 8 pF | 0.23~0.84 | 0,5 MHz |
| 8 | 5 mH | ±5% | 130 | 8 pF | 0.1~0.33 | 0,25 MHz |
| 9 | 14 mH | ±5% | 90 | 8 pF | 0.072~0.26 | 0,1 MHz |
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