يتكون هذا النظام عالي التردد لاختبار المواد العازلة من جهاز اختبار S916، وعداد Q عالي التردد، ووحدة برمجية مدمجة لجمع البيانات وقياس tanδ تلقائيًا، بالإضافة إلى ملفات حث HLK-1.
1. المقدمة
يتكون هذا النظام عالي التردد لاختبار المواد العازلة من جهاز اختبار S916، وعداد Q عالي التردد، ووحدة برمجية مدمجة لجمع البيانات وقياس tanδ تلقائيًا، بالإضافة إلى ملفات حث HLK-1.
تم تصميمه وتصنيعه بما يتوافق مع معايير GB/T 1409-2006، GB/T 1693-2007، ASTM D150، وIEC 60250.
يوفر النظام حلًا مثاليًا للاختبار الآلي لمعامل فقدان العازل (tanδ) والثابت العازل (ε) عند الترددات العالية للمواد العازلة.
يُستخدم قطعة تثبيت مكثف ذو صفيحتين متوازيتين لتثبيت عينات الاختبار، ويتم استخدام عداد Q كوحدة للقراءة. ويُحسب معامل فقدان العازل باستخدام معادلة تعتمد على فرق قيمة Q (مع وجود العينة / بدونها) وقراءة سماكة العينة.
يستطيع عداد Q الرقمي حساب وإظهار الثابت العازل (ε) وخسارة العازل (tanδ) تلقائيًا.
2. تركيب النظام
2.1 الوحدة الرئيسية: مقياس Q عالي التردد
| بند الوظيفة | تحديد |
| نطاق تردد مصدر الإشارة الرقمي المُركَّب DDS | 10 كيلوهرتز–70 ميغاهرتز |
| نسبة تغطية التردد لمصدر الإشارة | 7000:1 |
| دقة تردد مصدر الإشارة (6 أرقام معنوية) | 3×10⁻⁵ ± 1 رقم |
| نطاق قياس معامل الجودة (Q) | 1~1000، تبديل نطاق تلقائي/يدوي |
| دقة قياس معامل الجودة (Q) | 4 أرقام معنوية، الدقة: 0.1 |
| خطأ قياس معامل الجودة (Q) | <5% |
| نطاق قياس الحث (4 أرقام معنوية، الدقة: 0.1 نانوهينري) | 1 نانوهينري ~ 8.4 هينري، الدقة: 0.1 نانوهينري |
| خطأ قياس الحث | <5% |
| سعة رئيسية قابلة للضبط | 30–550 بيكوفاراد |
| نطاق القياس المباشر للسعة | 1 بيكوفاراد ~ 2.5 ميكروفاراد |
| خطأ/دقة السعة القابلة للضبط | ±1 بيكوفاراد أو <1% / 0.1 بيكوفاراد |
| وظيفة البحث عن نقطة الرنين | مسح آلي |
| نطاق Q المحدد مسبقًا | 5–1000 مع تنبيه صوتي وضوئي |
| وضع تبديل نطاق Q | تلقائي / يدوي |
| المعلمات المعروضة على شاشة LCD | F، L، C، Q، Lt، Ct، tn، وغيرها. |
| الخصم التلقائي لحثية المتبقي للوحدة وموصلات الاختبار (تصميم حصري) | متاح |
| قراءة مباشرة للسعة الكبيرة (تصميم حصري) | القيمة القصوى القابلة للقياس: 2.5 ميكروفاراد |
| دقة قياس معامل الفقد العازلي | 0.05% |
| دقة قياس ثابت العزل الكهربائي | 0.1% |
| سمك العينة القابلة للاختبار | 0.1 ملم – 10 ملم |
| واجهة اتصال USB | مدعوم |
2.2 جهاز اختبار رقمي S916 لقياس ثابت العزل الكهربائي εr ومعامل التبدد tanδ
مجموعة ملفات الحث HLK-1 بقيمة 2.3
| لا | المحاثة | المحاثة% | أدنى معامل جودة (Q) | السعة الموزعة | نطاق تردد الرنين (ميغاهرتز) | تردد الاختبار المناسب |
| 1 | 0.1 ميكروهنري | ±0.05 ميكروهنري | 200 | 5 بيكوفاراد | 20~70 | 50 ميغاهرتز |
| 2 | 0.5 ميكروهنري | ±0.05 ميكروهنري | 200 | 5 بيكوفاراد | 10~37 | 15 ميغاهرتز |
| 3 | 2.5 ميكروفاراد | ±5% | 200 | 5 بيكوفاراد | 4.6~17.4 | 10 ميغاهرتز |
| 4 | 10 ميكروهنري | ±5% | 200 | 6 بيكوفاراد | 2.3~8.6 | 5 ميغاهرتز |
| 5 | 50 ميكروهنري | ±5% | 200 | 6 بيكوفاراد | 1~3.75 | 1.5 ميغاهرتز |
| 6 | 115 ميكروهنري | ±5% | 200 | 6 بيكوفاراد | 0.75~2.64 | 1 ميغاهرتز |
| 7 | 1 ميلي هنري | ±5% | 150 | 8 بيكوفاراد | 0.23~0.84 | 0.5 ميغاهرتز |
| 8 | 5 ميلي هنري | ±5% | 130 | 8 بيكوفاراد | 0.1~0.33 | 0.25 ميغاهرتز |
| 9 | 14 ميلي هنري | ±5% | 90 | 8 بيكوفاراد | 0.072~0.26 | 0.1 ميغاهرتز |
© Dongguan Zhongli Instrument Technology Co., Ltd.
اترك استفسارك، وسنقدم لك منتجات وخدمات عالية الجودة!
يرجى ملء النموذج أدناه لطلب عرض أسعار أو لطلب مزيد من المعلومات عنا. يرجى أن تكون مفصلاً قدر الإمكان في رسالتك، وسنتصل بك في أقرب وقت ممكن مع الرد. نحن مستعدون لبدء العمل على مشروعك الجديد، اتصل بنا الآن للبدء.