Menu
1. Inleiding
Dit hoogfrequente testsysteem voor isolatiematerialen bestaat uit een S916-testopstelling, een hoogfrequente Q-meter, een ingebouwd gegevensverzameling- en automatische tanδ-meetsoftwaremodule, en HLK-1-inductoren.
Het is ontworpen en vervaardigd in overeenstemming met de normen GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, ASTM D150 en IEC 60250.
Het systeem biedt een optimale oplossing voor de automatische test van de hoogfrequente diëlektrische verliesfactor (tanδ) en diëlektrische constante (ε) van isolatiematerialen.
Een parallelplaatcondensatoropstelling wordt gebruikt om testmonsters vast te klemmen, gecombineerd met een Q-meter als afleesunit. De diëlektrische verliesfactor wordt berekend aan de hand van een formule op basis van het verschil in Q-waarde (met en zonder monster) en de gemeten dikte van het monster.
De digitale Q-meter kan automatisch de diëlektrische constante (ε) en het diëlektrisch verlies (tanδ) berekenen en weergeven.
2. Systeemopbouw
2.1 Hoofdeenheid: Hoogfrequente Q-meter
| Functie-item | Specificaties |
| Frequentiebereik van de DDS-digitale gesynthetiseerde signaalbron | 10 kHz–70 MHz |
| Frequentie-dekkingsratio van de signaalbron | 7000:1 |
| Frequentieprecisie van de signaalbron (6 significante cijfers) | 3×10⁻⁵ ± 1 cijfer |
| Meetbereik Q-factor | 1~1000, automatische / handmatige bereikomschakeling |
| Resolutie Q-factor | 4 significante cijfers, resolutie: 0,1 |
| Meetfout Q-factor | ＜5% |
| Meetbereik van de inductantie (4 significante cijfers, resolutie: 0,1 nH) | 1 nH ~ 8,4 H, resolutie: 0,1 nH |
| Meetfout inductantie | <5% |
| Afstembare hoofdcapaciteit | 30–550 pF |
| Direct meetbereik capaciteit | 1 pF ~ 2,5 μF |
| Instelbare capaciteitsfout / resolutie | ±1 pF of ＜1% / 0,1 pF |
| Zoekfunctie resonantiepunt | Automatische scanning |
| Vooraf ingestelde gekwalificeerde Q-bereik | 5–1000 met hoorbare en visuele alarmmeldingen |
| Q-bereik schakelmodus | Automatisch / Handmatig |
| Parameters weergegeven op LCD-scherm | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, enz. |
| Automatische correctie voor restinductantie van het apparaat en testkabels (exclusief ontwerp) | Beschikbaar |
| Directe aflezing voor grote capaciteit (exclusief ontwerp) | Maximaal meetbaar waarde: 2,5 μF |
| Meetnauwkeurigheid van de diëlektrische verliesfactor | 0.05% |
| Meetnauwkeurigheid van de diëlektrische constante | 0.1% |
| Testbare monsterdikte | 0,1 mm – 10 mm |
| USB-communicatie-interface | Ondersteund |
2.2 S916 digitale testopstelling voor diëlektrische constante εr en dissipatiecoëfficiënt tanδ
2.3 HLK-1 inductorset
| Nee | Inductantie | Inductantie% | Min. Q-factor | Gedistribueerde capaciteit | Resonantiefrequentiebereik (MHz) | Toepasselijke testfrequentie |
| 1 | 0,1 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 20~70 | 50 MHz |
| 2 | 0,5 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 10~37 | 15 MHz |
| 3 | 2,5 μH | ±5% | 200 | 5 pF | 4.6~17.4 | 10 MHz |
| 4 | 10 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 2.3~8.6 | 5 MHz |
| 5 | 50 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1~3.75 | 1,5 MHz |
| 6 | 115 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 0.75~2.64 | 1 MHz |
| 7 | 1 mH | ±5% | 150 | 8 pF | 0.23~0.84 | 0,5 MHz |
| 8 | 5 mH | ±5% | 130 | 8 pF | 0.1~0.33 | 0,25 MHz |
| 9 | 14 mH | ±5% | 90 | 8 pF | 0.072~0.26 | 0,1 MHz |
© Dongguan Zhongli Instrument Technology Co., Ltd.
Laat uw aanvraag achter, wij leveren u kwalitatieve producten en diensten!
Vul het onderstaande formulier in om een offerte aan te vragen of meer informatie over ons op te vragen. Wees zo gedetailleerd mogelijk in uw bericht, dan nemen we zo snel mogelijk contact met u op. We zijn klaar om aan de slag te gaan met uw nieuwe project. Neem nu contact met ons op om aan de slag te gaan.