ZL-1057 Dielectric Constant And Dielectric Loss Test System - Dongguan Zhongli Instrument Technology Co., Ltd.

製品

この絶縁材料用高周波試験システムは、S916試験治具、高周波Qメータ、内蔵型データ取得および自動tanδ測定ソフトウェアモジュール、さらにHLK-1インダクタから構成されています。.

1. はじめに

本システムは、GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、ASTM D150およびIEC 60250規格に準拠して設計・製造されています。.

本システムは、絶縁材料の高周波における誘電損失正接（tanδ）および誘電率（ε）の自動測定に対する最適なソリューションを提供します。.

平行平板コンデンサ治具を用いて試験片を固定し、Qメータを測定ユニットとして組み合わせます。誘電損失正接は、Q値の差（試料装着時／非装着時）と試料厚さの測定値に基づいた計算式により算出されます。.

デジタルQメータは、誘電率（ε）および誘電損失（tanδ）を自動的に計算し、表示することができます。.

2. システム構成

2.1 メインユニット：高周波Qメータ

機能項目	仕様
DDSデジタル合成信号源の周波数範囲	10kHz～70MHz
信号源の周波数カバー比	7000:1
信号源の周波数精度（有効数字6桁）	3×10⁻⁵ ± 1桁
Q値測定範囲	1～1000、自動／手動レンジ切替
Q値分解能	有効数字4桁、分解能：0.1
Q値測定誤差	＜5%
インダクタンス測定範囲（有効数字4桁、分解能：0.1nH）	1nH～8.4H、分解能：0.1nH
インダクタンス測定誤差	<5%
可変主容量	30～550pF
静電容量直接測定範囲	1pF～2.5μF
可変静電容量の誤差／分解能	±1pFまたは＜1%／0.1pF
共振点検索機能	自動スキャン
プリセット合格Q範囲	5～1000において、音声および視覚による警報機能付き
Q範囲切替モード	自動／手動
LCD画面に表示されるパラメータ	F、L、C、Q、Lt、Ct、tnなど.
ユニットおよびテストリードの残留インダクタンスに対する自動補正（独自設計）	利用可能
大容量コンデンサの直接測定（独自設計）	最大測定値：2.5μF
誘電損失係数の測定精度	0.05%
誘電率の測定精度	0.1%
試験可能サンプル厚さ	0.1mm～10mm
USB通信インターフェース	対応

2.2 誘電率εrおよび誘電損失角tanδ用デジタル試験治具S916

2.3 HLK-1インダクタセット

いいえ	インダクタンス	インダクタンス%	最小Q値	分布容量	共振周波数範囲（MHz）	適用試験周波数
1	0.1μH	±0.05μH	200	5pF	20~70	50MHz
2	0.5μH	±0.05μH	200	5pF	10~37	15MHz
3	2.5μH	±5%	200	5pF	4.6~17.4	10MHz
4	10μH	±5%	200	6pF	2.3~8.6	5MHz
5	50μH	±5%	200	6pF	1~3.75	1.5MHz
6	115μH	±5%	200	6pF	0.75~2.64	1MHz
7	1mH	±5%	150	8pF	0.23~0.84	0.5MHz
8	5mH	±5%	130	8pF	0.1~0.33	0.25MHz
9	14mH	±5%	90	8pF	0.072~0.26	0.1MHz