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1. Einleitung
Dieses Hochfrequenz-Prüfsystem für Isoliermaterialien besteht aus der S916-Prüfvorrichtung, einem Hochfrequenz-Q-Meter, einem integrierten Datenerfassungs- und automatischen tanδ-Messsoftwaremodul sowie HLK-1-Induktoren.
Es wurde gemäß den Normen GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, ASTM D150 und IEC 60250 konzipiert und hergestellt.
Das System bietet eine optimale Lösung für die automatische Prüfung des hochfrequenten Dielektrizitätsverlustwinkels (tanδ) und der Dielektrizitätskonstante (ε) von Isoliermaterialien.
Eine Parallelplattenkondensator-Vorrichtung dient zum Fixieren der Prüfproben; sie ist mit dem Q-Meter als Ableseseinheit kombiniert. Der Dielektrizitätsverlustwinkel wird anhand einer Formel berechnet, die auf der Differenz des Q-Werts (mit und ohne Probe) sowie dem Messwert der Probenstärke basiert.
Das digitale Q-Meter kann die Dielektrizitätskonstante (ε) und den Dielektrizitätsverlust (tanδ) automatisch ermitteln und anzeigen.
2. Systemaufbau
2.1 Haupteinheit: Hochfrequenz-Q-Meter
| Funktionspunkt | Spezifikationen |
| DDS-Digital-Synthesizer-Signalquelle-Frequenzbereich | 10 kHz–70 MHz |
| Frequenzabdeckungsverhältnis der Signalquelle | 7000:1 |
| Frequenzgenauigkeit der Signalquelle (6 signifikante Stellen) | 3×10⁻⁵ ± 1 Stelle |
| Messbereich des Q-Faktors | 1–1000, automatische/manuelle Bereichsumschaltung |
| Auflösung des Q-Faktors | 4 signifikante Stellen, Auflösung: 0,1 |
| Messfehler des Q-Faktors | ＜5% |
| Messbereich der Induktivität (4 signifikante Stellen, Auflösung: 0,1 nH) | 1 nH bis 8,4 H, Auflösung: 0,1 nH |
| Messfehler der Induktivität | <5% |
| Einstellbare Hauptkapazität | 30–550 pF |
| Direkter Kapazitätsmessbereich | 1 pF ~ 2,5 μF |
| Einstellbarer Kapazitätsfehler/Auflösung | ±1 pF oder ＜1% / 0,1 pF |
| Suchfunktion für den Resonanzpunkt | Automatische Abtastung |
| Voreingestellter qualifizierter Q-Bereich | 5–1000 mit akustischer und visueller Alarmanzeige |
| Q-Bereich-Schaltmodus | Automatisch / Manuell |
| Auf dem LCD-Bildschirm angezeigte Parameter | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn usw. |
| Automatische Abzugskorrektur für die Restinduktivität der Einheit und der Prüfleitungen (exklusives Design) | Verfügbar |
| Direkte Messung bei großen Kapazitäten (exklusives Design) | Maximal messbarer Wert: 2,5 μF |
| Messgenauigkeit des Dielektrizitätsverlustfaktors | 0.05% |
| Messgenauigkeit der Dielektrizitätskonstante | 0.1% |
| Prüfbare Probenstärke | 0,1 mm – 10 mm |
| USB-Kommunikationsschnittstelle | Unterstützt |
2.2 S916 digitale Prüfvorrichtung für die Dielektrizitätskonstante εr und den Verlustfaktor tanδ
2,3 HLK-1 Induktivitätssatz
| Nein | Induktivität | Induktivität% | Min. Q-Faktor | Verteilte Kapazität | Resonanzfrequenzbereich (MHz) | Anwendbare Prüffrequenz |
| 1 | 0,1 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 20~70 | 50 MHz |
| 2 | 0,5 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 10~37 | 15 MHz |
| 3 | 2,5 μH | ±5% | 200 | 5 pF | 4.6~17.4 | 10 MHz |
| 4 | 10 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 2.3~8.6 | 5 MHz |
| 5 | 50 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1~3.75 | 1,5 MHz |
| 6 | 115 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 0.75~2.64 | 1 MHz |
| 7 | 1 mH | ±5% | 150 | 8 pF | 0.23~0.84 | 0,5 MHz |
| 8 | 5 mH | ±5% | 130 | 8 pF | 0.1~0.33 | 0,25 MHz |
| 9 | 14 mH | ±5% | 90 | 8 pF | 0.072~0.26 | 0,1 MHz |
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