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Este sistema de pruebas de alta frecuencia para materiales aislantes está compuesto por un dispositivo de ensayo S916, un medidor Q de alta frecuencia, un módulo integrado de adquisición de datos y software automático de medición del factor de disipación (tanδ), así como inductores HLK-1.
1. Introducción
Este sistema de pruebas de alta frecuencia para materiales aislantes está compuesto por un dispositivo de ensayo S916, un medidor Q de alta frecuencia, un módulo integrado de adquisición de datos y software automático de medición del factor de disipación (tanδ), así como inductores HLK-1.
Ha sido diseñado y fabricado cumpliendo con las normas GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, ASTM D150 e IEC 60250.
El sistema ofrece una solución óptima para la realización automática de pruebas de la tangente de pérdida dieléctrica (tanδ) y la constante dieléctrica (ε) a alta frecuencia en materiales aislantes.
Se utiliza un accesorio de capacitancia de placas paralelas para sujetar las muestras de prueba, combinado con el medidor Q como unidad de lectura. La tangente de pérdida dieléctrica se calcula mediante una fórmula basada en la diferencia del valor Q (con muestra cargada/descargada) y la lectura del espesor de la muestra.
El medidor Q digital puede calcular y mostrar automáticamente la constante dieléctrica (ε) y la pérdida dieléctrica (tanδ).
2. Composición del sistema
2.1 Unidad principal: Medidor de Q de alta frecuencia
| Elemento funcional | Especificaciones |
| Rango de frecuencia de la fuente de señal digital sintetizada DDS | 10 kHz–70 MHz |
| Relación de cobertura de frecuencia de la fuente de señal | 7000:1 |
| Precisión de la frecuencia de la fuente de señal (6 dígitos significativos) | 3×10⁻⁵ ± 1 dígito |
| Rango de medición del factor Q | 1~1000, conmutación automática/manual de rango |
| Resolución del factor Q | 4 dígitos significativos, resolución: 0,1 |
| Error de medición del factor Q | ＜5% |
| Rango de medición de inductancia (4 dígitos significativos, resolución: 0,1 nH) | 1 nH ~ 8,4 H, resolución: 0,1 nH |
| Error de medición de inductancia | <5% |
| Capacitancia principal ajustable | 30–550 pF |
| Rango directo de medición de capacitancia | 1 pF ~ 2,5 μF |
| Error/resolución de capacitancia ajustable | ±1 pF o ＜1% / 0,1 pF |
| Función de búsqueda del punto de resonancia | Escaneo automático |
| Rango preestablecido de Q cualificado | 5–1000 con alerta audible y visual |
| Modo de conmutación del rango de Q | Automático / Manual |
| Parámetros mostrados en la pantalla LCD | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, etc. |
| Deducción automática de la inductancia residual de la unidad y de los cables de prueba (diseño exclusivo) | Disponible |
| Lectura directa para capacitancias grandes (diseño exclusivo) | Valor máximo medible: 2,5 μF |
| Precisión de medición del factor de pérdida dieléctrica | 0.05% |
| Precisión de medición de la constante dieléctrica | 0.1% |
| Espesor de la muestra comprobable | 0,1 mm – 10 mm |
| Interfaz de comunicación USB | Compatible |
2.2 S916 Dispositivo de prueba digital para la constante dieléctrica εr y el factor de disipación tanδ
2. Conjunto de inductores HLK-1
| No | Inductancia | Inductancia% | Factor Q mínimo | Capacitancia distribuida | Rango de frecuencia de resonancia (MHz) | Frecuencia de prueba aplicable |
| 1 | 0,1 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 20~70 | 50 MHz |
| 2 | 0,5 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 10~37 | 15 MHz |
| 3 | 2,5 μH | ±5% | 200 | 5 pF | 4.6~17.4 | 10 MHz |
| 4 | 10 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 2.3~8.6 | 5 MHz |
| 5 | 50 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1~3.75 | 1,5 MHz |
| 6 | 115 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 0.75~2.64 | 1 MHz |
| 7 | 1 mH | ±5% | 150 | 8 pF | 0.23~0.84 | 0,5 MHz |
| 8 | 5 mH | ±5% | 130 | 8 pF | 0.1~0.33 | 0,25 MHz |
| 9 | 14 mH | ±5% | 90 | 8 pF | 0.072~0.26 | 0,1 MHz |
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