ZL-3044C, farklı malzeme türlerinin termal iletkenliğini test etmek için kullanılabilen, geçici düzlem ısı kaynağı teknolojisi (TPS) kullanılarak geliştirilen bir termal iletkenlik test cihazıdır. Geçici düzlem ısı kaynağı yöntemi, ısı iletim performansını incelemek için en son yöntemlerden biridir ve bu da ölçüm teknolojisini yeni bir seviyeye taşır. Malzemeler incelenirken termal iletkenlik hızlı ve doğru bir şekilde ölçülebilir, bu da kurumsal kalite kontrolü, malzeme üretimi ve laboratuvar araştırması için büyük kolaylık sağlar. Cihazın kullanımı ve anlaşılması kolaydır. Numuneye zarar vermez.
Giriiş:
ZL-3044C, farklı malzeme türlerinin termal iletkenliğini test etmek için kullanılabilen, geçici düzlem ısı kaynağı teknolojisi (TPS) kullanılarak geliştirilen bir termal iletkenlik test cihazıdır. Geçici düzlem ısı kaynağı yöntemi, ısı iletim performansını incelemek için en son yöntemlerden biridir ve bu da ölçüm teknolojisini yeni bir seviyeye taşır. Malzemeler incelenirken termal iletkenlik hızlı ve doğru bir şekilde ölçülebilir, bu da kurumsal kalite kontrolü, malzeme üretimi ve laboratuvar araştırması için büyük kolaylık sağlar. Cihazın kullanımı ve anlaşılması kolaydır. Numuneye zarar vermez.
Bçalışma prensibi:
Geçici düzlem ısı kaynağı (TPS), İsveç'teki Chalmer Teknoloji Üniversitesi'nden Profesör Silas Gustafsson tarafından sıcak tel yöntemi temelinde geliştirilen, termal iletkenliği ölçmek için yeni bir yöntemdir. Malzemelerin termofiziksel özelliklerini ölçme ilkesi, sonsuz ortamda kademeli ısıtma diski ısı kaynağı tarafından üretilen geçici sıcaklık tepkisine dayanmaktadır. Termal dirençli malzemeden yapılmış düzlemsel bir prob, aynı anda ısı kaynağı ve sıcaklık sensörü olarak kullanılır. Termal direnç katsayısı sıcaklığı ve direnç arasındaki ilişki doğrusaldır, yani ısı kaybı, numunenin termal iletkenliğini yansıtan direnç değişimini anlayarak bilinebilir. Bu yöntemdeki prob, iletken alaşımın aşındırılmasıyla oluşturulan sürekli bir çift sarmal yapı levhasıdır. Dış katman, probun belirli bir mekanik mukavemete sahip olmasını ve prob ile numune arasındaki elektriksel yalıtımı korumasını sağlayan çok ince kalınlıkta çift katmanlı bir yalıtım koruma tabakasıdır. Test sırasında, prob test için numunenin ortasına yerleştirilir. Akım probdan geçtiğinde, belirli bir sıcaklık artışı üretilir ve üretilen ısı aynı anda probun her iki tarafındaki numunelere yayılır. Termal difüzyon hızı, malzemenin termal iletkenliğine bağlıdır. Sıcaklık ve probun tepki süresi kaydedilerek termal iletkenlik doğrudan matematiksel modelden elde edilebilir.
Test nesnesi:
Metaller, seramikler, alaşımlar, cevherler, polimerler, kompozit malzemeler, kağıt, kumaşlar, köpük plastikler (yüzey yalıtım malzemeleri, levhalar), mineral yün, çimento duvar, cam takviyeli kompozit levha CRC, çimento polistiren levha, sandviç beton, FRP panel kompozit levha, kağıt petek, panel, koloid, sıvı, toz, granül ve macun katı vb. yaygın olarak test edilmektedir.
Enstrüman özellikleri:
Ana Teknik Parametreler:
Test aralığı |
0,005-300 w/(m*k) |
Sıcaklık aralığı |
oda sıcaklığı – 130 ℃ |
Prob çapı |
No.1 prob 7.5mm |
No.2 prob 15mm |
|
No.3 prob 30mm |
|
Kesinlik |
± 3% |
Tekrarlanabilirlik hatası |
≤ 3% |
Ölçüm zamanı |
5 ~ 160 saniye |
Güç kaynağı |
AC 220V |
Genel güç |
< 500W |
Örnek sıcaklık artışı |
< 15 ℃ |
Test örneği gücü P |
No.1 prob:0 < p < 1W |
No.2 prob:0 < p < 14W |
|
No.3 probu:0 < p < 14W |
|
Örnek şartname |
No.1 prob ile ölçülen tek numune (15*15*3,75mm) |
No.2 prob ile ölçülen tek numune (30*30*7,5 mm) |
|
No.3 prob ile ölçülen tek numune (60*60*20mm) |
Not: Prob No. 1 daha ince düşük iletkenliğe sahip malzemeleri ölçer, Prob No. 2 geleneksel genel amaçlı bir prob ve Prob No. 3 daha yüksek termal iletkenliğe sahip daha yüksek iletkenliğe sahip malzemeleri ölçer. Ölçülecek numunenin yüzeyi pürüzsüz ve yapışkansa, numuneler istiflenebilir.
Diğer yöntemlerle karşılaştırıldığında daha hızlı, daha basit ve daha kapsamlıdır:
Ciçerik |
Geçici düzlem kaynak yöntemi |
Lazer yöntemi |
Isı akış ölçer yöntemi |
Koruyucu plaka yöntemi |
ölçüm yöntemi |
Kararsız durum yöntemi |
Kararsız durum yöntemi |
Kararsız durum yöntemi |
Kararsız durum yöntemi |
Fiziksel özelliklerin ölçülmesi |
Isı iletkenliği ve ısı yayılımı doğrudan elde edilebilir |
Isıl yayılma ve özgül ısı doğrudan elde edilir ve ısıl iletkenlik giriş numune yoğunluğu ile hesaplanır |
Isı iletkenliğini doğrudan elde edin |
Doğrudan ısı iletkenliği |
Uygulama kapsamı |
Katılar, sıvılar, tozlar, macunlar, kolloidler, parçacıklar |
katılar |
Katılar, sıvılar |
katılar |
örnek hazırlama |
Özel bir gereklilik yok, basit numune hazırlama |
Örnek karmaşıklığı |
Belirli gereksinimlere sahip basit numune hazırlama |
Daha büyük örneklem boyutu |
Ölçüm doğruluğu |
± 3%, tercihen ± 0,5% |
± 10% |
±5% |
±3% |
fiziksel model |
Düzlem ısı kaynağı temas ölçümü, sonlu yüzey teması iyi olduğu sürece |
Temassız ısı kaynağı |
Hat ısı kaynağı hat modeliyle iyi temas halinde olmalıdır |
Isı kaynağı temas tipi, iyi yüzey teması gereklidir |
Test kapsamı[w/(m*k)] |
0.005-300 |
10-500 |
0.005-10 |
0.005-5 |
Zamanı ölçmek |
5-160S |
Birkaç dakika |
Onlarca dakika |
Birkaç saat |
© Dongguan Zhongli Instrument Technology Co., Ltd.
Sorunuzu bırakın, size kaliteli ürün ve hizmet sunalım!
Lütfen teklif almak veya hakkımızda daha fazla bilgi edinmek için aşağıdaki formu doldurun. Lütfen mesajınızda mümkün olduğunca ayrıntılı olun, en kısa sürede size geri dönüş yapacağız. Yeni projeniz üzerinde çalışmaya başlamaya hazırız, başlamak için hemen bizimle iletişime geçin.