ZL-6026A Cámara de pruebas de envejecimiento por vapor

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ZL-6026A Cámara de pruebas de envejecimiento por vapor

Cámara de Ensayo de Envejecimiento por Vapor Aplicable a conectores electrónicos, CI semiconductores, transistores, diodos, LCD, capacitancia de resistencia de chips.

Introducción detallada: Aplicable a los conectores electrónicos, semiconductores IC, transistores, diodos, LCD, chip de resistencia de capacitancia, cero componentes de la industria de componentes electrónicos de metal pin dip tinability prueba antes del envejecimiento acelerado de prueba de tiempo de vida; semiconductores, componentes pasivos, piezas pin prueba de oxidación. Microordenador controlador de temperatura, pantalla digital LED, control PID + SSR, sensor de temperatura de resistencia de platino (PT-100), la resolución de 0,1 ℃, dispositivo automático de protección de seguridad. Especificaciones técnicas Parámetros:

Modelo ZL-6026A
Tamaño interno 500×400×170(An×Al×F)mm
Dimensiones exteriores 600 × 500 × 420 (ancho × alto × fondo) mm
Material interno y externo de la caja SUS304 # placa de acero inoxidable de alta calidad
Capa aislante Gomaespuma FV
Temperatura Tiempo de subida unos 40 minutos
Función de control PID + SSR, pantalla digital
Temperatura del vapor 97 ℃
Función de temporización 1 ~ 9999H/M/S, con función de alarma por tiempo, corta la alimentación cuando llega la hora
Control del nivel de agua función de alarma de bajo nivel de agua
Fuente de alimentación 1Ø 220V±10% 50Hz 1,0KW
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